薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用范圍簡述

更新時(shí)間：2019-09-19

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薄膜測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。

薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用范圍：

（1）對(duì)金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度測(cè)量；

（2）接觸式測(cè)試原理更有效的檢測(cè)出太陽能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值；

（3）通過調(diào)節(jié)測(cè)量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張厚度測(cè)試、紙板材料厚度測(cè)試；

（4）用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測(cè)量；

薄膜測(cè)厚儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1、微電腦控制、大液晶顯示。

2、進(jìn)口高精度傳感器，保證了測(cè)試精度。

3、嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。

4、測(cè)量頭自動(dòng)升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

5、手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式，更方便客戶選擇。

6、配備微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。

7、打印大值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果，方便用戶分析數(shù)據(jù)。

8、儀器自動(dòng)保存多100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印。

9、標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定，方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備。

10、測(cè)厚儀配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，人為誤差小。

11、薄膜測(cè)厚儀專業(yè)軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶。

12、配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。

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薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用范圍簡述